Manejo fácil de la muestra-Requisitos mínimos de la fijación para la colocación versátil de la muestra
Operación fácil de usar-Protocolos simples con excelente repetibilidad y detección rápida
Datos espectrales completos: valores y curvas de reflectancia de espectro completo para un análisis completo
Medición de color avanzada: muestreo de esfera integrado para una caracterización precisa del color del material
Medición de reflectancia especular: para superficies pulidas y materiales tipo espejo
Análisis de reflectancia difusa: ideal para superficies y revestimientos ásperos/texturizados
Caracterización de color de precisión: medición precisa del color de materiales y acabados
| Modelo | BIX - 8811 - 0X1X (Nota modelo: Opción 0X-Espectrómetro, 1X-Opción de accesorio de muestra) |
| Espectrómetro | 01: 200nm - 1100nm (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13) |
| 02: 200nm - 900nm (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01) | |
| 03: 400nm - 1100nm (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02) | |
| Accesorio de muestra | 11: 1 a 1 fibra (SIM - 6102 - 1010 - S/S - P) * 2ea Etapa de reflexión de doble punto (-6303 BIM) * 1ea |
| 12: Fibra tipo Y (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea Etapa de reflexión de doble punto (-6303 BIM) * 1ea | |
| 13: Esfera de integración para reflexión (SIM - 3003 - 02501) * 1ea Etapa de integración de la esfera (BIM - 6316 - 25) * 1ea | |
| Fuente de luz | Fuente de luz de tungsteno deuterio (BIM - 6203) * 1ea |
| Estándar | Espejo estándar de reflectancia (SIM - 6326 - 30) * 1ea |
| Estándar de reflectancia difusa (SIM - 6304 - 30) * 1ea |
